可控硅是交流電路中常用的一種功率元器件，可以用作可控整流、無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)或者是調壓等功能。在交流電路中應用廣泛。用于交流控制回路的固態(tài)繼電器 SSR 的無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)基本都是用可控硅來(lái)實(shí)現的。在使用可控硅當作無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)時(shí)，經(jīng)常需要做過(guò)零檢測功能，尤其是在大功率負載電路中。但可控硅電路做過(guò)零檢測不是必須的。

　　什么是過(guò)零檢測功能

　　所謂過(guò)零檢測就是指在交流回路中，當波形由正半周向負半周轉換或者由負半周向正半周轉換時(shí)，經(jīng)過(guò)零位，系統要檢測到這個(gè)零位?？煽毓柽^(guò)零檢測是指，系統檢測到零位時(shí)，要讓可控硅在零位或者零位附近時(shí)觸點(diǎn)導通或者斷開(kāi)?？梢栽O計過(guò)零檢測電路來(lái)實(shí)現功能，也可以使用帶有過(guò)零檢測功能的光耦來(lái)實(shí)現。

　　使用帶有過(guò)零檢測功能的光耦，除了使用這種類(lèi)型的光耦外還可以適用分離元器件搭建過(guò)零檢測電路，使用分立元器件所搭建的一個(gè)簡(jiǎn)單的過(guò)零檢測電路，借這個(gè)電路簡(jiǎn)單講解一下過(guò)零檢測的方法。

　　用兩個(gè)光耦和 NPN 三極管搭建而成的過(guò)零檢測電路，在非零且正半周時(shí)有電流流過(guò)光耦U1，U1光耦導通輸出低電平，NPN三極管截止，OUT輸出高電平;在非零且負半周時(shí)有電流流過(guò)光耦U2，U2光耦導通輸出低電平，NPN三極管截止，OUT輸出高電平。

　　在零點(diǎn)附近時(shí)，沒(méi)有電流流過(guò)光耦，所以?xún)蓚€(gè)光耦都處于關(guān)斷狀態(tài)，NPN三極管的基極被上拉，所以三極管導通，OUT輸出低電平。

　　綜上所述，只要檢測到低電平，就可以判斷到零點(diǎn)，所以可以將OUT信號接入單片機的外部中斷，只要單片機檢測到低電平就可以判斷零點(diǎn)來(lái)臨，可以控制可控硅輸出，這樣就可以實(shí)現在控制回路中電流幾乎為零時(shí)實(shí)現可控硅的通斷。

　　在選型固態(tài)繼電器SSR時(shí)，在規格書(shū)上可以看到有特別說(shuō)明是否帶過(guò)零檢測功能。在控制信號有效時(shí)，SSR不立即輸出，而是在零點(diǎn)來(lái)臨時(shí)才導通或者關(guān)斷，對50Hz的交流回路而言，時(shí)間差大約為半個(gè)周期約10ms。

　　可控硅做過(guò)零檢測的意義

　　可控硅的過(guò)零檢測就是讓可控硅在零位附近導通或者關(guān)斷，即在零位附近的時(shí)候要讓用戶(hù)負載快速接入回路或者從回路中斷開(kāi)。我們知道，在電流很大的時(shí)候，導通回路或者切斷回路會(huì )對負載和電源造成很大的沖擊，電流越大沖擊越大，會(huì )給電網(wǎng)帶來(lái)很多諧波干擾。如果在電流為零的時(shí)候把負載接入或者斷開(kāi)，就能把沖擊降到更小，從而避免了因負載頻繁開(kāi)斷而帶來(lái)影響。所以，在大功率負載控制回路中，過(guò)零檢測很有意義。