可控硅是交流電路中常用的一種功率元器件,可以用作可控整流、無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)或者是調壓等功能。在交流電路中應用廣泛。用于交流控制回路的固態(tài)繼電器 SSR 的無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)基本都是用可控硅來(lái)實(shí)現的。在使用可控硅當作無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)時(shí),經(jīng)常需要做過(guò)零檢測功能,尤其是在大功率負載電路中。但可控硅電路做過(guò)零檢測不是必須的。
什么是過(guò)零檢測功能
所謂過(guò)零檢測就是指在交流回路中,當波形由正半周向負半周轉換或者由負半周向正半周轉換時(shí),經(jīng)過(guò)零位,系統要檢測到這個(gè)零位??煽毓柽^(guò)零檢測是指,系統檢測到零位時(shí),要讓可控硅在零位或者零位附近時(shí)觸點(diǎn)導通或者斷開(kāi)??梢栽O計過(guò)零檢測電路來(lái)實(shí)現功能,也可以使用帶有過(guò)零檢測功能的光耦來(lái)實(shí)現。
使用帶有過(guò)零檢測功能的光耦,除了使用這種類(lèi)型的光耦外還可以適用分離元器件搭建過(guò)零檢測電路,使用分立元器件所搭建的一個(gè)簡(jiǎn)單的過(guò)零檢測電路,借這個(gè)電路簡(jiǎn)單講解一下過(guò)零檢測的方法。
用兩個(gè)光耦和 NPN 三極管搭建而成的過(guò)零檢測電路,在非零且正半周時(shí)有電流流過(guò)光耦U1,U1光耦導通輸出低電平,NPN三極管截止,OUT輸出高電平;在非零且負半周時(shí)有電流流過(guò)光耦U2,U2光耦導通輸出低電平,NPN三極管截止,OUT輸出高電平。
在零點(diǎn)附近時(shí),沒(méi)有電流流過(guò)光耦,所以?xún)蓚€(gè)光耦都處于關(guān)斷狀態(tài),NPN三極管的基極被上拉,所以三極管導通,OUT輸出低電平。
綜上所述,只要檢測到低電平,就可以判斷到零點(diǎn),所以可以將OUT信號接入單片機的外部中斷,只要單片機檢測到低電平就可以判斷零點(diǎn)來(lái)臨,可以控制可控硅輸出,這樣就可以實(shí)現在控制回路中電流幾乎為零時(shí)實(shí)現可控硅的通斷。
在選型固態(tài)繼電器SSR時(shí),在規格書(shū)上可以看到有特別說(shuō)明是否帶過(guò)零檢測功能。在控制信號有效時(shí),SSR不立即輸出,而是在零點(diǎn)來(lái)臨時(shí)才導通或者關(guān)斷,對50Hz的交流回路而言,時(shí)間差大約為半個(gè)周期約10ms。
可控硅做過(guò)零檢測的意義
可控硅的過(guò)零檢測就是讓可控硅在零位附近導通或者關(guān)斷,即在零位附近的時(shí)候要讓用戶(hù)負載快速接入回路或者從回路中斷開(kāi)。我們知道,在電流很大的時(shí)候,導通回路或者切斷回路會(huì )對負載和電源造成很大的沖擊,電流越大沖擊越大,會(huì )給電網(wǎng)帶來(lái)很多諧波干擾。如果在電流為零的時(shí)候把負載接入或者斷開(kāi),就能把沖擊降到更小,從而避免了因負載頻繁開(kāi)斷而帶來(lái)影響。所以,在大功率負載控制回路中,過(guò)零檢測很有意義。